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工程及量產數據分析

從工程驗證到量產穩定，Tango AI 打造全流程數據洞察平台

在半導體製造流程中，如何有效串連工程試產與量產測試數據，

並即時掌握良率變化，是提升產品品質與縮短時程的關鍵。

Tango AI 提供完整的視覺化分析工具組，助您第一時間看見問題、做出判斷：

Datalog Viewer –深度 Data Log 分析 × 多元圖表視覺化，快速掌握異常與趨勢

  • 支援所有測試資料格式，如STDF、SPD、CSV 、等多種測試資料格式

  • 單筆、批次、多站點比對分析，一鍵呈現

  • 內建 Histogram、Box Plot、Trend Plot、Jitter Plot、 Scatter Plot 、 Probability Plot 、CDF等分析圖型

讓工程師更快掌握每個測項的行為，提升 Debug 效率

晶圓詳列展示 (Wafer Detail View)
缺陷地圖即時透視

不只是看良率，更深入每顆晶粒的表現與異常分佈

  • 高解析度 Wafer Map 視覺化每顆晶粒測試狀態

  • 支援 bin 分佈、參數熱區、異常圖樣分類（Pattern Recognition）

  • 可依產品/站點快速篩選比對，適用於 CP、FT、SLT 各站分析

良率監控 
即時異常預警機制

將良率異常從「事後發現」轉為「即時應對」

  • 自動統計 Yield、First Pass Yield、Retest Rate、Fail Bin Top 等核心指標

  • 設定條件觸發異常警示（如 Yield Drop > X%、Bin Shift 等）

  • 與 WIP 流程同步更新，快速判斷製程或測試穩定性

智慧 Dashboard –
決策一站整合

把複雜的數據轉化為簡單的決策依據

  • 組合式 Dashboard 自由拖拉組件（良率趨勢、站點分佈、Wafer Map 預覽等）

  • 支援跨部門角色客製化視圖（工程、品保、製造、管理）

  • 提供每日自動更新報表與異常摘要

從實驗室到產線，從晶粒到整批出貨，
Tango AI將資料變成洞察，將洞察轉為行動。

無論是分析製程穩定性、偵測批次異常、追蹤長期趨勢，
或是進行跨階段比對，Tango AI  都能透過這些圖表工具，
讓數據轉化為可行的決策依據。

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