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大數據分析平台

精準數據,驅動每一個測試階段的優化與提升

在半導體產業中,測試過程中的每一個環節對產品品質至關重要。

Tango AI 平台提供WIP、INLINE、WAT、CP、FT、SLT、BUMP、ASSY 所有供應鏈數據整合

Tango AI 大數據平台的核心優勢:

✦ 跨階段數據無縫整合

Tango AI 不僅支援供應鏈全流程數據的無縫整合,還能在各測試環節之間實現數據流動與交互,確保信息準確傳遞並最大化利用。

✦ 智能數據分析與預警系統

基於先進的AI和機器學習技術,Tango AI 能夠對數據進行深度分析,提前預測潛在的品質風險,並提供即時的異常預警與製程優化建議,幫助企業更快做出反應,降低不良品率。

✦ 精準測試與質量控制

每一階段測試數據的精確監控與分析,確保了產品從晶圓到封裝的每一個步驟都達到最佳品質標準,避免不良品流入下一階段。

✦ 即時反饋與報告功能

實時數據反饋與可視化報告幫助工程師快速定位問題,支持即時調整,從而縮短反應時間,提升測試效率。

✦ 跨部門協作與數據共享

支持跨部門協作,Tango AI 平台實現設計、製程、測試、品質控制等部門間的數據共享與協作,提升整體生產流程的透明度與協同效率。

Tango AI  — 讓每一個測試環節的數據都為良率提升助力,
全面優化您的半導體生產流程,實現高效的品質管理與精確的製程控制。
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導入Tango AI 方案
Tango AI 功能:

✦  跨站數據自動關聯 (Lot/Die/Package ID Mapping)
✦  智慧異常即時追溯 (即時反查WAT/CP/BUMP)
✦  良率趨勢視覺化 (Trend Chart, Wafer Heatmap)
✦  機器學習異常關聯分析 (Clustering, PCA)

主要串接站點:

WIP ➔ INLINE ➔ WAT ➔ CP ➔ BUMP ➔ ASSY ➔ FT ➔ SLT

某大型客戶導入Tango AI成效案例

「從異常到行動,只需數小時。」
Tango AI  — 為大數據時代打造的智慧良率中樞。

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