車用電子數據可靠度管理
Tango AI 車用電子 PAT 解決方案
Part Average Test 數據驅動，守護每一顆車用晶片的可靠性
在車用電子日趨嚴格的品質要求下，傳統的 Pass/Fail 檢驗已無法滿足零失效（Zero Defect）的可靠性標準。Part Average Test (PAT) 作為一項關鍵的統計方法，已成為 Tier 1、IDM 與 Fabless 在出貨控制中不可或缺的數據過濾機制。
Tango AI 提供完整支援 PAT 的良率管理解決方案，協助車用電子供應鏈實現「預防性品質管理」，在產品仍符合規格時，即能透過統計異常識別潛在風險，提前剔除「邊緣晶片（marginal parts）」，大幅提升產品穩定性與客戶信任度。
挑戰：車用電子對品質的高敏感性
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一旦產品進入車用應用，失效可能造成安全事故
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客戶要求 PPB（parts per billion）等級的品質控管
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零件需能承受高溫、高壓、震動等極端環境
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規格內異常（Within-Spec Outliers）成為致命風險
Tango AI 大數據平台的核心優勢：
✦ 統計門檻自動計算與更新
根據產品批次數據，自動生成平均值與標準差，建立動態 PAT 門檻，確保即時反映製程變化
✦ Outlier偵測與追蹤分析
自動偵測跨批次、跨 Lot 的異常零件，提供快速的異常比對與歷史趨勢視覺化
✦ 與CP/FT數據串接比對
結合晶圓測試與最終測試數據，分析邊緣晶片的測試行為與來源
✦ 符合AEC與OEM客戶PAT要求
完整支援車用測試規範與報告格式，協助客戶快速通過車規認證
✦ 自動報表與稽核紀錄
可生成 PAT 分析報告，供 QA、FAE 或 第三方客戶驗證，降低稽核風險
應用價值
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提前阻斷潛在失效品流入市場，強化品牌信任
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透過大數據演算與視覺化呈現，提升分析效率與準確率
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降低 RMA（Return Material Authorization）率與客訴風險
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支援高頻率 PAT 設定維護，適應多產品/多站點生產需求
Tango AI
打造車用級可靠度的數據防線
從前段晶圓測試到後段出貨控管
Tango AI 讓 PAT 分析不再是事後補救，而是融入整個良率管理流程的預防機制。協助您在競爭激烈的車用電子市場中，建立真正穩健、安全的產品品質防線。
面對車用產業三大角色，Tango AI 如何賦能？
Tier 1 (系統供應商)
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透過 PAT 數據分析，篩選潛在失效晶片，確保供應鏈品質一致
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強化稽核與供應商品質管理（SPC/PAT報表即時生成）
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快速回應 OEM 車廠的可靠度認證需求（符合 AEC-Q100 標準）
IDM (整合元件製造商)
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在 WAT、CP、FT 各階段佈建 PAT 門檻與異常監控
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串聯設計端與製造端數據，進行全流程異常追溯
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提高晶片初段良率，降低 RMA 成本與客訴風險
OSAT (封裝與測試代工廠)
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在 SLT、FT 及出貨前實施 PAT 檢測，提前剔除規格邊緣品
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提供客戶即時的 PAT 報表與批次趨勢分析，提升客戶服務品質
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彈性支援多樣產品線，快速部署不同 PAT 設定與閥值調整
Tango AI PAT 解決方案關鍵優勢：
✦ 自動建置與更新 PAT 門檻
動態計算各批次平均值與標準差，靈活應對製程變動
✦ 異常晶片智能識別
跨 Lot、跨測試階段追蹤 outlier 行為，防堵潛在失效品
✦ 完整稽核與報告體系
支援 PAT 統計報表、異常趨勢分析、合規記錄自動化
✦ 與全站測試數據無縫整合
WAT、CP、FT、SLT、ASSY 全流程串接，打造一致性的品質控管體系